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에너지뉴스
| 제목 | 미국) n형 태양광의 UV 문제 해결 | ||
|---|---|---|---|
| 국가 | [미국] | 출처 | PV Magazine |
| 산업구분 | [태양에너지] | 등록일 | 2024.10.21 |
| 구분 | 기술 | ||
(UV 유도 열화) 2024년 PV 테스트 결과, 일부 n형 TOPCon 및 HJT 패널에서 자외선 유도 열화(UVID)가 발생하여 성능이 최대 16.6%까지 감소함 (감소 메커니즘) 자외선이 실리콘과 수소의 화학 결합을 깨뜨려 셀의 효율성을 감소시키는 등 여러 열화 메커니즘이 밝혀짐 (해결책) UV 차단 유리, 특수 캡슐화 재료, 셀 구조 개선 등 다양한 방법으로 UVID를 줄일 수 있음 기사 원문 발췌
제목 :
Solving the UV problem of n-type solar 발췌 내용 :
Laboratory testing has revealed that some negatively-doped, “n-type” tunnel oxide passivated contact (TOPCon) and heterojunction (HJT) solar modules are susceptible to ultraviolet (UV) light-related damage and degradation. That could mean trouble down the line, if modules in the field begin to show UV-related performance loss. Manufacturers are implementing solutions at cell and module level.
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| 원문 링크 | https://www.pv-magazine.com/2024/10/18/solving-the-uv-problem-of-n-type-solar/ | ||