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| 제목 | 미국) 미국 연구진, n형 TOPCon 셀의 LeTID 열화 영향이 미미함을 실험으로 확인 | ||
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| 국가 | [미국] | 출처 | pv magazine |
| 산업구분 | [태양에너지] | 등록일 | 2026.09.02 |
| 구분 | 기술 | ||
미국 연구진이 인·안티모니·비소를 도핑한 n형 웨이퍼와 TOPCon 셀 전구체에서 도판트 종류와 무관하게 LeTID가 나타나지만 n형 실리콘에서는 결함의 재결합 작용이 약해 열화 폭이 작고 소성 냉각 속도를 충분히 낮추면 사실상 무시할 수준이며 산업용 TOPCon 셀의 효율 손실이 보증 허용 범위 안에 머문다고 확인함 기사 원문 발췌
제목 :
New research confirms negligible LeTID degradation in TOPCon solar cells 발췌 내용 :
US researchers have found that light- and elevated-temperature-induced degradation (LeTID) has a limited impact on n-type TOPCon solar cells compared with earlier p-type PERC technology.
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| 원문 링크 |
https://www.pv-magazine.com/2026/09/01/new-research-confirms-negligible-letid-degradation-in-topcon-solar-cells/
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